Titulació | Tipus | Curs |
---|---|---|
4314939 Nanociència i Nanotecnologia Avançades / Advanced Nanoscience and Nanotechnology | OT | 0 |
Podeu consultar aquesta informació al final del document.
Voluntat d'aprendre.
1. Aprendre els fonaments de la radiació sincrotró.
2. Familiaritzar-se amb el treball i la investigació que es porta a terme a les grans instal·lacions.
3. Comprendre els usos de la radiació de sincrotró per caracteritzar mostres, materials, processos, etc...
Tema # 1. Introducció a la interacció radiació-matèria i sincrotrons. Programa del mòdul. Breu resum de la interacció fotons-matèria. Instal·lacions de Sincrotró existents i història.
Descripció general dels components d'una font de llum de sincrotró.
Tema # 2. Introducció als acceleradors, fonts de radiació sincrotró i propietats del feix de fotons principals. Linac, booster i anell d'emmagatzematge. Imants de flexió, superbend i dispositius d'inserció (onduladors i onduladors).
Propietats clau de la radiació de sincrotró: flux i brillantor, afinabilidad, polarització, estructura temporal, coherència (parcial).
Tema # 3. Descripció general d'un Beamline. Front End, Primary Optics, Microfocus i Nanofocus Optics (diferents tipus de lents). Entorn de la mostra. Detectors.
Tema # 4. Espectroscòpia infraroja i Microspectroscopia. Principis bàsics i aplicacions en física, nanotecnologia i medicina.
Tema # 5. Difracció de pols de sincrotró-I. Principis i aplicacions a l'anàlisi quantitativa de fases.
Tema # 6. Difracció de pols de sincrotró-II. Aplicacions generals. Caracterització de la microestructura a partir de l'anàlisi de la forma de bec. Funció de distribució de parells.
Tema # 7. Dispersió de raigs X d'angle petit. Fonaments i aplicacions.
Tema # 8. Raigs X durs EXAFS i XANES-I. Fonaments.
Tema # 9. FF. Raigs X durs EXAFS i XANES-II. Aplicacions generals. Micro-XAS i microfluorescència.
Tema # 10. PE. Radiografia suau XAS i XMCD. Estructura electrònica i magnètica d'un sòlid. Principis bàsics i aplicacions dels raigs X tous XAS i XMCD.
Tema # 11. PE. Espectrometria i reflectometria de raigs X. Fonaments i aplicacions.
Tema #12. PE. Espectroscòpies de fotoemissió. Clàssiques espectroscòpies de fotoemissió basades en UHV i fotoemisió a pressió propera a l'ambient. Fotoemisió amb resolució angular.
Tema # 13. PE. Microscòpia electrònica de fotoemissió (PEEM). Fonaments de PEEM, LEEM (microscòpia electrònica de baixa energia) i LEED (difracció d'electrons de baixa energia). Cartografia química i magnètica. Imatges de camp fosc.
Tema # 14. MAGA. Tècniques d'imatge-I: microtomografía computada. Tomografia d'absorció i tomografia de contrast de fase. Tomografia de raigs X tous.
Tema # 15. MAGA. Tècniques d'imatge-II: Lensless Imaging & Future Sources of Synchrotron Light. Ús de la coherència per a l'obtenció d'imatges sense lent. Ptycografía. Futures fonts de llum de sincrotró: Làser d'electrons lliures de raigs X i sincrotrons de taula.
Activitat final # 16. (8 hores) Visita de 2 dies a l'ALBA incloent demostracions sobre registre i reducció de dades. Els conjunts de dades seleccionats poden ser lliurats als estudiants per a la seva posterior anàlisi a casa.
No està prevista la recollida de dades en línia. L'anàlisi preliminar (relativament simple) de les dades podria / hauria de dur a terme de forma autònoma
Títol | Hores | ECTS | Resultats d'aprenentatge |
---|---|---|---|
Tipus: Dirigides | |||
Classes | 37,5 | 1,5 | 6, 10 |
Tipus: Supervisades | |||
Visites a ALBA | 7,5 | 0,3 | 8, 6, 4, 3, 12, 10, 7, 11 |
Tipus: Autònomes | |||
Anàlisi de dades | 35 | 1,4 | 1, 8, 9, 6, 12, 2, 5, 7, 11 |
Report en temas de Sincrotrón | 66 | 2,64 | 1, 9, 4, 3, 10, 2, 5, 7, 11 |
1. Ensenyar a l'aula.
2. Visita al sincrotró ALBA amb exercicis seleccionats (simples) (tractament de dades / anàlisi de dades) in situ.
3. Informes realitzats per l'alumne dedicats a una assignatura relacionada amb les radiacions de sincrotró.
4. Fàcil anàlisi de dades realitzatt de forma autònoma després de la visita a l'ALBA en exemples seleccionats
Nota: es reservaran 15 minuts d'una classe, dins del calendari establert pel centre/titulació, per a la complementació per part de l'alumnat de les enquestes d'avaluació de l'actuació del professorat i d'avaluació de l'assignatura/mòdul.
Títol | Pes | Hores | ECTS | Resultats d'aprenentatge |
---|---|---|---|---|
Demostracions a ALBA-CELLS | 30% | 1 | 0,04 | 4, 12, 10, 5, 7, 11 |
Treball extra tal com informes/memos/... | 30% | 1 | 0,04 | 1, 8, 9, 6, 4, 3, 10, 2, 5, 7, 11 |
examen final | 40% | 2 | 0,08 | 1, 8, 6, 4, 3, 12, 10, 5, 7, 11 |
Treball extra amb informes / memos / etc. sobre un tema donat a l'aula: 30%
Demostració (es) al ALBA incloent algunes anàlisis de dades: 30%.
Prova final de síntesi (unes 2 hores): 40%.
És possible tenir la possibilitat d'augmentar la marca de síntesi final a una segona prova, si s'ha realitzat la primera prova, independentment de la marca
See English
uso de programas de edicion para presentar el material de clase
Nom | Grup | Idioma | Semestre | Torn |
---|---|---|---|---|
(TEm) Teoria (màster) | 1 | Anglès | primer quadrimestre | tarda |