Titulación | Tipo | Curso |
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2501922 Nanociencia y Nanotecnología | OB | 2 |
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NINGUNO
- Introducción a la microscopía electrónica y de proximidad
- Fundamentos teóricos y descripción del equipamiento técnico en microscopios SEM, TEM, STM y AFM.
- Análisis de la morfología y microestructura superficial, a escala atómica, de diferentes materiales utilizando microscopias.
- Fundamentos de la estructura cristalográfica de diferentes materiales. Introducción al análisis estructural mediante difracción de rayos X.
- Introducción a los conceptos de superficies ideales y superficies reales. Tratamientos superficiales y sus aplicaciones.
- Introducción a la tecnología del vacíoy su aplicación en las nanotecnologías
- Microscopía de fuerzas atómicas. AFM.
Teoría. Introducción a los fundamentos de la microscopía AFM. Modos de trabajo, resolución lateral y vertical, concepto de convolución. Ventajas y limitaciones.
Observación de las superficies de diferentes materiales, estudio de la topografía, rugosidad, defectos, ordenaciones.
- Microscopía de efecto túnel - STM.
Teoría: Introducción del efecto túnel. Materiales Piezoeléctricos. Microscopias de proximidad. Fundamentos de la microscopía STM. Modos de trabajo, ventajas y limitaciones.
Análisis e interpretación de imágenes superficiales obtenidas con muestras de grafito, oro y disulfuro de molibdeno.
- Microscopía Electrónica. SEM / TEM.
Teoría. Introducción a la microscopía electrónica de barrido y de transmisión. Aplicaciones en el campo de la ciencia de los materiales y la nanotecnología. Visita al servicio de microscopía de la UAB.
Práctica virtual. Análisis de la microestructura superficial de diferentes materiales utilizando microscopios SEM/TEM. Interpretación de los datos.
- Superficies y tratamientos superficiales.
Teoría: Introducción a los conceptos de superficie ideal, funcionalización, tractamentssuperficials. Conceptos de mojabilidad, hidrofobicidad y hidrofilicidad.
Tratamientos físicos y químicos de diversas superficies, observación y discusión de los efectos del tratamiento sobre la mojabilidad de las superficies.
- Tecnología del Vacío.
Teoría: Definición de vacío y sus aplicaciones. Introducción a los conceptos teóricos de teoría cinética de los gases, gases residuales, recorrido libre medio, tiempo de formación de una monocapa, velocidad de bombeo, conductancia.
Práctica en linea: videos y problemas sobre equipos de creación y medida del vacío. Velocidat de bombeo y conductancia.
- Difracción de rayos X.
Teoría: introducción a la cristalografía. Teoría reticular. Estructuras cristalinas. Índice de Miller. Geometría Bragg-Brentano. Difracción de rayos-X.
Adquisición de espectros de difracción de monocristales. Análisis de los datos. Determinación de parámetros de cel.la, indexación de picos. Índice de Miller {hkl}. Planes e hileras, orientaciones preferenciales.
Título | Horas | ECTS | Resultados de aprendizaje |
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Tipo: Dirigidas | |||
Clases de teoría | 21 | 0,84 | 9, 11, 31, 30, 6 |
Entrega de Trabajos o problemas | 6 | 0,24 | 3, 12, 16, 18, 17, 4, 24, 28, 27, 34, 33, 40, 39 |
Trabajo de investigación técnicas caracterización | 40 | 1,6 | 1, 3, 2, 22, 5, 7, 20, 38, 12, 10, 32, 35, 36, 13, 21, 15, 16, 18, 17, 19, 4, 14, 23, 29, 25, 26, 27, 31, 34, 8, 6, 40, 39, 37 |
tutorias | 8 | 0,32 | 3, 2, 7, 12, 9, 11, 17, 4, 14, 23, 24, 28, 27, 31, 30, 34, 6 |
Tipo: Autónomas | |||
Busquedas bibliogràficas | 2 | 0,08 | 4, 28, 8, 6 |
Estudio individual | 16 | 0,64 | 18, 17, 4, 14, 23, 24, 28, 26, 27, 31, 34, 33, 8, 6 |
Lectura de guiones | 22 | 0,88 | 35, 36, 14, 31 |
Redacción de informes de prácticas | 28 | 1,12 | 3, 7, 12, 9, 32, 18, 17, 28, 26, 8, 6, 37 |
Resolución de problemas | 4 | 0,16 | 2, 12, 15, 18, 17, 4, 24, 28, 27, 34, 33 |
Durante el curso 2024/25 esta asignatura tendrá un funcionamiento diferente, debido a que la asignatura pasa de 2º curso a 3º en el nuevo plan de estudios.
Durante el curso 2024/25 la asignatura se desarrollará de la siguiente manera:
El estudiante tendrá a su alcance, a través del Campus Virtiual, una serie de material para adquirir los conocimientos y habilidades necesarios para alcanzar los objetivos el curso. Este material se complementará con tutorías presenciales con el profesor responsable a consensuar entre las dos partes.
Los estudiantes repetidores podrán guardar las prácticas del curso anterior y presentarse sólo a la evaluación teórica.
Nota: se reservarán 15 minutos de una clase dentro del calendario establecido por el centro o por la titulación para que el alumnado rellene las encuestas de evaluación de la actuación del profesorado y de evaluación de la asignatura o módulo.
Título | Peso | Horas | ECTS | Resultados de aprendizaje |
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Entrega problemas XRD- CARINE | 10 | 0 | 0 | 3, 22, 7, 12, 16, 18, 4, 14, 23, 24, 27, 31, 34, 33, 8, 6, 37 |
Examen oral | 20 | 0 | 0 | 3, 2, 5, 7, 38, 12, 9, 11, 35, 36, 13, 15, 16, 18, 17, 24, 29, 25, 26, 27, 30, 8 |
Informe ME | 5 | 0 | 0 | 3, 2, 22, 7, 38, 12, 9, 10, 11, 32, 15, 16, 17, 19, 4, 14, 23, 24, 25, 27, 30, 8, 39, 37 |
Informe Superficies | 10 | 0 | 0 | 1, 3, 22, 7, 20, 12, 35, 36, 13, 19, 4, 14, 23, 24, 26, 27, 31, 8, 6, 40, 37 |
Informe XRD | 5 | 0 | 0 | 3, 22, 7, 20, 12, 10, 35, 18, 19, 14, 23, 24, 28, 27, 31, 34, 33, 8, 6, 37 |
Informes Microscopías de sonda de proximidad (AFM i STM) | 20 | 0 | 0 | 1, 3, 2, 5, 7, 20, 38, 9, 11, 35, 21, 15, 17, 19, 4, 14, 23, 24, 28, 29, 25, 26, 27, 31, 30, 33, 8, 6, 40, 39, 37 |
examen teórico | 25 | 3 | 0,12 | 3, 2, 12, 9, 11, 15, 18, 17, 23, 27, 30 |
prueba de conocimiento sobre tecnología del vacío | 5 | 0 | 0 | 1, 3, 22, 7, 12, 36, 19, 14, 23, 27, 31, 34, 33, 8, 6, 37 |
Las competencias de esta asignatura serán evaluadas mediante diferentes vías, cada una con cierto peso en la nota final.
- Examen teórico: se realizará una prueba escrita tipo test con un peso total de 25% de la nota final, con nota mínima para aprobar la asignatura de 3.5. El alumnado dispondrá de una segunda oportunidad para superar este mínimo, y por tanto poder aprobar la asignatura, con un examen de recuperación.
- Examen oral: se realizará una sesión individual para cada alumno para evaluar los conocimientos adquiridos, de obligada realización y que que tendrá un peso total del 20% de la nota final.
- Entregas (informes, problemas). Durante el curso 2024/25, debido al cambio de plan de estudios del grado de nano (la asignatura pasa a formar parte del 3r curso del plan de estudios) estas entregas podrán consistir en trabajos de investigación realizados por los estudiantes sobre diferentes técnicas de caracterización. En el caso de los alumnos repetidores, esta parte se podrá convalidar con las actividades análogas del curso anterior.
Remarcar que antes de algunas de las actividades propuestas el alumno dispondrá de un test de autoaprendizaje individual y obligatorio previo. La no realización a tiempo significará una penalización de 0.5 sobre 10 puntos a la nota de la correspondiente actividad. En algunos casos, se propondrá la realización de actividades complementarías previas a la entrega del informe.
Para aprobar la asignatura hay que tener una nota final igual o superior a 5, siempre y cuando se haya obtenido un mínimo de 3.5 en el examen teórico.
Bibliografia (llibres virtuals disponible a la biblioteca)
A User's Guide to Vacuum Technology
First published:20 June 2003
Print ISBN:9780471270522 |Online ISBN:9780471467168 |DOI:10.1002/0471467162
Copyright © 2003 John Wiley & Sons, Inc. All rights reserved.
Materials Characterization: Introduction to Microscopic and Spectroscopic Methods, Second Edition
First published:2 August 2013
Print ISBN:9783527334636 |Online ISBN:9783527670772 |DOI:10.1002/9783527670772
Copyright © 2013 Wiley‐VCH Verlag GmbH & Co. KGaA
Carine Crystallography. Programario de analisi de datos (Matlab, Excel o equivalente).
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