Titulación | Tipo | Curso | Semestre |
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4314939 Nanociencia y Nanotecnología Avanzadas | OT | 0 | 1 |
Puede consutarlo a través de este enlace. Para consultar el idioma necesitará introducir el CÓDIGO de la asignatura. Tenga en cuenta que la información es provisional hasta el 30 de noviembre del 2023.
Ganas de aprender.
1. Aprender los fundamentos de la radiación sincrotrón.
2. Familiarizarse con el trabajo y la investigación que se lleva a cabo en las grandes instalaciones.
3. Comprender los usos de la radiación de sincrotrón para caracterizar muestras, materiales, procesos, etc...
Tema #1. Introducción a la interacción radiación-materia y sincrotrones. Programa del módulo. Breve resumen de la interacción fotones-materia. Instalaciones de Sincrotrón existentes e historia.
Descripción general de los componentes de una fuente de luz de sincrotrón.
Tema #2. Introducción a los aceleradores, fuentes de radiación sincrotrón y propiedades del haz de fotones principales. Linac, booster y anillo de almacenamiento. Imanes de flexión, superbend y dispositivos de inserción (onduladores y onduladores).
Propiedades clave de la radiación de sincrotrón: flujo y brillo, afinabilidad, polarización, estructura temporal, coherencia (parcial).
Tema #3. Descripción general de un Beamline. Front End, Primary Optics, Microfocus y Nanofocus Optics (diferentes tipos de lentes). Entorno de la muestra. Detectores.
Tema #4. Espectroscopia infrarroja y Microspectroscopia. Principios básicos y aplicaciones en física, nanotecnología y medicina.
Tema #5. Difracción de polvo de sincrotrón-I. Principios y aplicaciones al análisis cuantitativo de fases.
Tema #6. Difracción de polvo de sincrotrón-II. Aplicaciones generales. Caracterización de la microestructura a partir del análisis de la forma de pico. Función de distribución de pares.
Tema #7. Dispersión de rayos X de ángulo pequeño. Fundamentos y aplicaciones.
Tema #8. Rayos X duros EXAFS y XANES-I. Fundamentos.
Tema #9. FF. Rayos X duros EXAFS y XANES-II. Aplicaciones generales. Micro-XAS y microfluorescencia.
Tema #10. PE. Radiografía suave XAS y XMCD. Estructura electrónica y magnética de un sólido. Principios básicos y aplicaciones de los rayos X blandos XAS y XMCD.
Tema #11. PE. Espectrometría y reflectometría de rayos X. Fundamentos y aplicaciones.
Tema #12. PE. Espectroscopias de fotoemisión. Clásicas espectroscopias de fotoemisión basadas en UHV y fotoemisión a presión cercana al ambiente. Fotoemisión con resolución angular.
Tema #13. PE. Microscopía electrónica de fotoemisión (PEEM). Fundamentos de PEEM, LEEM (microscopía electrónica de baja energía) y LEED (difracción de electrones de baja energía). Cartografía química y magnética. Imágenes de campo oscuro.
Tema #14. MAGA. Técnicas de imagen-I: Microtomografía computarizada. Tomografía de absorción y tomografía de contraste de fase. Tomografía de rayos X blandos.
Tema #15. MAGA. Técnicas de imagen-II: Lensless Imaging & Future Sources of Synchrotron Light. Uso de la coherencia para la obtención de imágenes sin lente. Ptycografía. Futuras fuentes de luz de sincrotrón: Láser de electrones libres de rayos X y sincrotrones de mesa.
Actividad final #16. (8 horas) Visita de 2 días al ALBA incluyendo demostraciones sobre registro y reducción de datos. Los conjuntos de datos seleccionados pueden ser entregados a los estudiantes para su posterior análisis en casa.
No está prevista la recogida de datos en línea. El análisis preliminar (relativamente simple) de los datos podría/debería llevarse a cabo de forma autónoma
1. Enseñar en el aula.
2. Visita al sincrotrón ALBA con ejercicios seleccionados (simples) (tratamiento de datos / análisis de datos) in situ.
3. Informes realizados por el alumno dedicados a una asignatura relacionada con las radiaciones de sincrotrón.
4. Fácil análisis de datos realizado de forma autónoma después de la visita al ALBA en ejemplos seleccionados.
Nota: se reservarán 15 minutos de una clase dentro del calendario establecido por el centro o por la titulación para que el alumnado rellene las encuestas de evaluación de la actuación del profesorado y de evaluación de la asignatura o módulo.
Título | Horas | ECTS | Resultados de aprendizaje |
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Tipo: Dirigidas | |||
Clases | 37,5 | 1,5 | 6, 11 |
Tipo: Supervisadas | |||
Viistas a ALBA | 7,5 | 0,3 | 3, 4, 6, 9, 10, 11, 7, 12 |
Tipo: Autónomas | |||
Análisis de datos | 35 | 1,4 | 1, 2, 5, 6, 9, 10, 8, 7, 12 |
Report en temas de Sincrotrón | 66 | 2,64 | 1, 2, 3, 4, 5, 9, 8, 11, 7 |
Trabajo extra con informes/memos/etc. sobre un tema dado en el aula: 30%
Demostración(es) en el ALBA incluyendo algunos análisis de datos: 30%.
Prueba final de síntesis (unas 2 horas): 40%.
Es posible tener la posibilidad de aumentar la marca de síntesis final en una segunda prueba, si se ha realizado la primera prueba, independientemente de la marca.
Título | Peso | Horas | ECTS | Resultados de aprendizaje |
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Demostraciones en ALBA-CELLS | 30% | 1 | 0,04 | 4, 5, 9, 11, 7, 12 |
Examen Final | 40% | 2 | 0,08 | 1, 3, 4, 5, 6, 9, 10, 11, 7, 12 |
Trabajos extra como informes/memos/.. | 30% | 1 | 0,04 | 1, 2, 3, 4, 5, 6, 9, 10, 8, 11, 7 |
1. Philip Willmott (2011). Print ISBN: 9780470745793 Online ISBN: 9781119970958.DOI: 10.1002/9781119970958
An Introduction to Synchrotron Radiation: Tehcniques and Applications.
2. S. Mobilio, F. Boscherini, C. Meneghini (2015). ISBN: 978-3-642-55314-1 (Print) 978-3-642-55315-8 (Online)
Synchrotron Radiation: Basics, Methods and Applications.
uso de programas de edicion para presentar el material de clase