Titulació | Tipus | Curs | Semestre |
---|---|---|---|
2501922 Nanociència i Nanotecnologia | OB | 2 | A |
Podeu accedir-hi des d'aquest enllaç. Per consultar l'idioma us caldrà introduir el CODI de l'assignatura. Tingueu en compte que la informació és provisional fins a 30 de novembre de 2023.
Cap
- Introducció a la microscòpia electrònica i de proximitat
- Fonaments teòrics i descripció de l'equipament tècnic en microscopis SEM, TEM, STM i AFM.
- Anàlisis de la morfologia i microestructura superficial, a escala atòmica, de diferents materials utilitzant microscòpies.
- Fonaments de la estructura cristal·logràfica de diferents materials. Introducció a l'anàlisi estructural mitjançant difracció de raigs X.
- Introducció als conceptes de superfícies ideals i superfícies reals. Tractaments superficials i les seves aplicacions.
- Introducció a la tecnologia del buit i la seva aplicació en les nanotecnologies
- Microscòpia de forces atòmiques. AFM.
- Microscòpia d’efecte túnel – STM.
- Microscòpia Electrònica. SEM/TEM.
- Superficies i tractaments superficials.
- Tecnologia del Buit.
- Difracció de raigs X.
L’assignatura es divideix en 21h de teoria, 6 hores de problemes a l'aula i 40 hores de pràctiques (laboratori i en linia).
Teoria: s’introduiran els conceptes fisicoquímics que s’utilitzaran en les diferents tècniques experimentals. Es realitzaran exercicis que permetran una millor comprensió dels fenòmens implicats així com introduir el tractament de dades i la interpretació d’aquests.
Problemes a l'aula: Us de programari lliure CaRIne Crystallography per a la resolució de problemes sobre estructures cristal·lines i difracció. L'alumne portarà el seu propi ordinador.
Pràctiques: Les sessions pràctiques es realitzaran en grup o individualment per a assolir els resultats d'aprenentatge propis de l'assignatura.
L’alumne trobarà a l’aula moodle de l’assignatura els apunts en format pdf, la distribució per grups, el calendari i els guions de les pràctiques. Pel perfecte aprofitament de les hores pràctiques l’alumne haurà de revisar abans de cada pràctica la teoria corresponent, el guió de la practica i la documentació complementaria (articles, vídeos, etc) corresponent.
Nota: es reservaran 15 minuts d'una classe, dins del calendari establert pel centre/titulació, per a la complementació per part de l'alumnat de les enquestes d'avaluació de l'actuació del professorat i d'avaluació de l'assignatura/mòdul.
Títol | Hores | ECTS | Resultats d'aprenentatge |
---|---|---|---|
Tipus: Dirigides | |||
classes de teoria | 21 | 0,84 | 7, 10, 12, 30, 31 |
practiques en laboratori | 40 | 1,6 | 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9, 11, 14, 15, 16, 17, 18, 19, 20, 21, 22, 23, 24, 26, 27, 28, 29, 31, 32, 34, 35, 36, 37, 38, 39, 40 |
treballs dirigits i problemes | 6 | 0,24 | 3, 4, 5, 13, 17, 18, 19, 25, 28, 33, 34, 39, 40 |
treballs dirigits i tutories | 8 | 0,32 | 2, 3, 4, 5, 7, 8, 10, 12, 13, 15, 18, 24, 25, 28, 30, 31, 34 |
Tipus: Autònomes | |||
Estudi individual | 16 | 0,64 | 4, 7, 9, 13, 15, 18, 19, 24, 25, 27, 28, 31, 33, 34 |
Lectura de guions | 22 | 0,88 | 15, 31, 35, 36 |
Recerques bibliogràfiques | 2 | 0,08 | 4, 7, 9, 13 |
Redacció d'informes | 28 | 1,12 | 3, 5, 7, 8, 9, 10, 13, 18, 19, 27, 32, 37 |
Resolució de problemes | 4 | 0,16 | 2, 4, 5, 13, 16, 18, 19, 25, 28, 33, 34 |
Les competències d’aquesta assignatura seran avaluades mitjançant diferents vies, cada una amb un cert pes en la nota final.
- Examen teòric: es realitzarà una prova escrita tipus test amb un pes total de 25% de la nota final, amb nota mínima per aprovar l'assignatura de 3.5. L'alumnat disposarà d'una segona oportunitat per superar aquest mínim, i per tant poder aprovar l'assignatura, amb un examen de recuperació.
- Examen pràctic: es realitzarà una sessió individual per a cada alumne per avaluar els coneixements adquirits relatius a les diferents pràctiques realitzades, d'obligada realització i que que tindrà un pes total del 20% de la nota final.
- Entregues (informes, problemes). Es realitzarà una avaluació per a cadascuna de les entregues amb el pes especificat a la taula d'activitats formatives.
Remarcar que abans d'algunes de les activitats proposades l'alumne disposarà d'un test d'autoaprenentatge individual i obligatori previ a la pràctica corresponent. La no realització a temps significarà una penalització de 0.5 sobre 10 punts a la nota de la corresponent activitat. En alguns casos, es proposarà la realització d'activitats complementaries prèvies a l'entrega de l'informe.
L’ assistència a totes les pràctiques i la seva realització és obligatòria. No existeix prova de recuperació de l'avaluació de les activitats pràctiques.
Per aprovar l’assignatura cal tenir una nota final igual o superior a 5, sempre i quan s'hagi obtingut un mínim de 3.5 a l'examen teòric.
Títol | Pes | Hores | ECTS | Resultats d'aprenentatge |
---|---|---|---|---|
Entrega Informe Practica de tractaments superficials | 10 | 0 | 0 | 1, 3, 4, 5, 7, 8, 9, 14, 15, 20, 21, 23, 24, 25, 27, 28, 31, 35, 36, 37, 39 |
Entrega Informe practica Difracció de Raigs -X | 5 | 0 | 0 | 3, 5, 7, 8, 9, 11, 13, 15, 19, 20, 21, 23, 24, 25, 28, 31, 33, 34, 35, 37 |
Entrega Informe practica Microscòpies Electròniques | 5 | 0 | 0 | 2, 3, 4, 5, 8, 9, 10, 11, 12, 15, 16, 17, 18, 20, 23, 24, 25, 26, 28, 30, 32, 37, 38, 40 |
Entrega de problemes programari Carine | 10 | 0 | 0 | 3, 4, 5, 7, 8, 9, 15, 17, 19, 23, 24, 25, 28, 31, 33, 34, 37 |
Entrega informe pràctiques Microscòpies de proximitat | 20 | 0 | 0 | 1, 2, 3, 4, 6, 7, 8, 9, 10, 12, 13, 15, 16, 18, 20, 21, 22, 24, 25, 26, 27, 28, 29, 30, 31, 33, 35, 37, 38, 39, 40 |
Examen pràctic | 20 | 0 | 0 | 2, 3, 5, 6, 8, 9, 10, 12, 14, 16, 17, 18, 19, 25, 26, 27, 28, 29, 30, 35, 36, 38 |
Examen teòric | 25 | 3 | 0,12 | 2, 3, 5, 10, 12, 16, 18, 19, 24, 28, 30 |
entrega i/o test Tecnologia del Buit | 5 | 0 | 0 | 1, 3, 5, 7, 8, 9, 15, 20, 23, 24, 28, 31, 33, 34, 36, 37 |
Bibliografia (llibres virtuals disponible a la biblioteca)
A User's Guide to Vacuum Technology
First published:20 June 2003
Print ISBN:9780471270522 |Online ISBN:9780471467168 |DOI:10.1002/0471467162
Copyright © 2003 John Wiley & Sons, Inc. All rights reserved.
Materials Characterization: Introduction to Microscopic and Spectroscopic Methods, Second Edition
First published:2 August 2013
Print ISBN:9783527334636 |Online ISBN:9783527670772 |DOI:10.1002/9783527670772
Copyright © 2013 Wiley‐VCH Verlag GmbH & Co. KGaA
Carine Crystallography. Programari d'anàlisi de dades (Matlab, Excel o equivalent).