Titulación | Tipo | Curso | Semestre |
---|---|---|---|
4314939 Nanociencia y Nanotecnología Avanzadas / Advanced Nanoscience and Nanotechnology | OT | 0 | 1 |
Ganas de aprender.
1. Aprender los fundamentos de la radiación sincrotrón.
2. Familiarizarse con el trabajo y la investigación que se lleva a cabo en las grandes instalaciones.
3. Comprender los usos de la radiación de sincrotrón para caracterizar muestras, materiales, procesos, etc...
Tema #1. Introducción a la interacción radiación-materia y sincrotrones. Programa del módulo. Breve resumen de la interacción fotones-materia. Instalaciones de Sincrotrón existentes e historia.
Descripción general de los componentes de una fuente de luz de sincrotrón.
Tema #2. Introducción a los aceleradores, fuentes de radiación sincrotrón y propiedades del haz de fotones principales. Linac, booster y anillo de almacenamiento. Imanes de flexión, superbend y dispositivos de inserción (onduladores y onduladores).
Propiedades clave de la radiación de sincrotrón: flujo y brillo, afinabilidad, polarización, estructura temporal, coherencia (parcial).
Tema #3. Descripción general de un Beamline. Front End, Primary Optics, Microfocus y Nanofocus Optics (diferentes tipos de lentes). Entorno de la muestra. Detectores.
Tema #4. Espectroscopia infrarroja y Microspectroscopia. Principios básicos y aplicaciones en física, nanotecnología y medicina.
Tema #5. Difracción de polvo de sincrotrón-I. Principios y aplicaciones al análisis cuantitativo de fases.
Tema #6. Difracción de polvo de sincrotrón-II. Aplicaciones generales. Caracterización de la microestructura a partir del análisis de la forma de pico. Función de distribución de pares.
Tema #7. Dispersión de rayos X de ángulo pequeño. Fundamentos y aplicaciones.
Tema #8. Rayos X duros EXAFS y XANES-I. Fundamentos.
Tema #9. FF. Rayos X duros EXAFS y XANES-II. Aplicaciones generales. Micro-XAS y microfluorescencia.
Tema #10. PE. Radiografía suave XAS y XMCD. Estructura electrónica y magnética de un sólido. Principios básicos y aplicaciones de los rayos X blandos XAS y XMCD.
Tema #11. PE. Espectrometría y reflectometría de rayos X. Fundamentos y aplicaciones.
Tema #12. PE. Espectroscopias de fotoemisión. Clásicas espectroscopias de fotoemisión basadas en UHV y fotoemisión a presión cercana al ambiente. Fotoemisión con resolución angular.
Tema #13. PE. Microscopía electrónica de fotoemisión (PEEM). Fundamentos de PEEM, LEEM (microscopía electrónica de baja energía) y LEED (difracción de electrones de baja energía). Cartografía química y magnética. Imágenes de campo oscuro.
Tema #14. MAGA. Técnicas de imagen-I: Microtomografía computarizada. Tomografía de absorción y tomografía de contraste de fase. Tomografía de rayos X blandos.
Tema #15. MAGA. Técnicas de imagen-II: Lensless Imaging & Future Sources of Synchrotron Light. Uso de la coherencia para la obtención de imágenes sin lente. Ptycografía. Futuras fuentes de luz de sincrotrón: Láser de electrones libres de rayos X y sincrotrones de mesa.
Actividad final #16. (8 horas) Visita de 2 días al ALBA incluyendo demostraciones sobre registro y reducción de datos. Los conjuntos de datos seleccionados pueden ser entregados a los estudiantes para su posterior análisis en casa.
No está prevista la recogida de datos en línea. El análisis preliminar (relativamente simple) de los datos podría/debería llevarse a cabo de forma autónoma
1. Enseñar en el aula.
2. Visita al sincrotrón ALBA con ejercicios seleccionados (simples) (tratamiento de datos / análisis de datos) in situ.
3. Informes realizados por el alumno dedicados a una asignatura relacionada con las radiaciones de sincrotrón.
4. Fácil análisis de datos realizado por el estudiante de forma autónoma después de la visita al ALBA en ejemplos seleccionados.
Nota: se reservarán 15 minutos de una clase dentro del calendario establecido por el centro o por la titulación para que el alumnado rellene las encuestas de evaluación de la actuación del profesorado y de evaluación de la asignatura o módulo.
Título | Horas | ECTS | Resultados de aprendizaje |
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Tipo: Dirigidas | |||
Clases | 37,5 | 1,5 | 6, 11 |
Tipo: Supervisadas | |||
Viistas a ALBA | 7,5 | 0,3 | 3, 4, 6, 9, 10, 11, 7, 12 |
Tipo: Autónomas | |||
Análisis de datos | 35 | 1,4 | 1, 2, 5, 6, 9, 10, 8, 7, 12 |
Report en temas de Sincrotrón | 66 | 2,64 | 1, 2, 3, 4, 5, 9, 8, 11, 7 |
Trabajo extra con informes/memos/etc. sobre un tema dado en el aula: 30%
Demostración(es) en el ALBA incluyendo algunos análisis de datos: 30%.
Prueba final de síntesis (unas 2 horas): 40%.
Es posible tener la posibilidad de aumentar la marca de síntesis final en una segunda prueba, si se ha realizado la primera prueba, independientemente de la marca.
Título | Peso | Horas | ECTS | Resultados de aprendizaje |
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Demostraciones en ALBA-CELLS | 30% | 1 | 0,04 | 4, 5, 9, 11, 7, 12 |
Examen Final | 40% | 2 | 0,08 | 1, 3, 4, 5, 6, 9, 10, 11, 7, 12 |
Trabajos extra como informes/memos/.. | 30% | 1 | 0,04 | 1, 2, 3, 4, 5, 6, 9, 10, 8, 11, 7 |
1. Philip Willmott (2011). Print ISBN: 9780470745793 Online ISBN: 9781119970958.DOI: 10.1002/9781119970958
An Introduction to Synchrotron Radiation: Tehcniques and Applications.
2. S. Mobilio, F. Boscherini, C. Meneghini (2015). ISBN: 978-3-642-55314-1 (Print) 978-3-642-55315-8 (Online)
Synchrotron Radiation: Basics, Methods and Applications.
uso de programas de edicion para presentar el material de clase